EMC設(shè)計(jì)
通過設(shè)計(jì)的力量
在努力滿足嵌入式設(shè)計(jì)者的需求，硅制造商的物理尺寸和成本降低的同時(shí)，繼續(xù)增加的功能和性能。 嵌入式設(shè)計(jì)人員和最終消費(fèi)者提供了一個(gè)顯著的好處，但由于復(fù)雜的消費(fèi)電子和嵌入式產(chǎn)品的需求不斷擴(kuò)大，所以沒有正確地設(shè)計(jì)應(yīng)用程序的挑戰(zhàn)。 嵌入式設(shè)計(jì)人員不僅要相抗衡的產(chǎn)品規(guī)格，但作為電子繼續(xù)演變成“更小，更快，更便宜”，這樣做不必要的干擾，從外部電源，否則被稱為EMI（電磁干擾）的固有敏感性。 EMI可以肆虐的結(jié)果，從簡單的水所造成的滋擾，在產(chǎn)品的操作災(zāi)難性的失敗造成停止在產(chǎn)品功能上的嵌入式應(yīng)用程序。 無論是整合電子智能產(chǎn)品，如電動(dòng)牙刷，或滿足醫(yī)療設(shè)備的高標(biāo)準(zhǔn)要求，創(chuàng)造最電的魯棒性設(shè)計(jì)仍然是必要的，但有時(shí)充滿挑戰(zhàn)的努力。 作為一個(gè)嵌入式系統(tǒng)設(shè)計(jì)中，必須優(yōu)先考慮不僅要滿足產(chǎn)品規(guī)格，但也創(chuàng)造了最可靠的最終產(chǎn)品的EMI限制其消極影響。
EMI / EMC是什么？
EMI（電磁干擾）時(shí)，會(huì)發(fā)生一個(gè)設(shè)備的電磁場有另一臺(tái)設(shè)備的操作產(chǎn)生不良影響。 EMC或電磁兼容性的電氣系統(tǒng)或移動(dòng)設(shè)備以在電磁環(huán)境中正常運(yùn)行，而不會(huì)受到由EMI，或與在其環(huán)境中的EMI影響其他設(shè)備的能力。
EMC內(nèi)部電子元件已成為一個(gè)日益重要的問題，為嵌入式設(shè)計(jì)人員能夠抗衡。 作為系統(tǒng)頻率和更低的電源電壓增加的需要，在最終應(yīng)用變得更易受的負(fù)面影響的EMI。 這些電的影響，可產(chǎn)生由任一輻射或傳導(dǎo)EMI源。 輻射的來源包括任何電子或機(jī)電，包括電機(jī)，電源線，天線，在PCB（印刷電路板）的痕跡，甚至在PCB上的硅元件。 傳導(dǎo)EMI主要示出了本身作為電氣“噪聲”的應(yīng)用程序上的電源線，并可以在一個(gè)系統(tǒng)內(nèi)的其他設(shè)備所造成的感應(yīng)電壓尖峰。
傳導(dǎo)EMI的一個(gè)額外的元素是EFT（電快速瞬變）。 這會(huì)發(fā)生在交流電源線，并可以通過電容耦合或供應(yīng)注射進(jìn)入一個(gè)系統(tǒng)。 應(yīng)用最典型的容易出現(xiàn)EFT電容或變壓器的電源。 無論是電磁干擾源可能會(huì)導(dǎo)致電“閉鎖”的系統(tǒng)應(yīng)用程序和結(jié)果的不可預(yù)知的操作。 在最嚴(yán)重的情況下，這甚至可以導(dǎo)致完全失敗的裝置通過EOS（電氣超過應(yīng)力）。
最終在一個(gè)特定的應(yīng)用程序中的EMI，預(yù)防仍然嵌入式設(shè)計(jì)人員的責(zé)任。 這一點(diǎn)，首先實(shí)施的電路板設(shè)計(jì)好做法，包括適當(dāng)?shù)腜CB布局和接地，走線長度的限制，電器元件的位置，以及選擇最EMI彈性硅產(chǎn)品。
Microchip的EMI防御
Microchip的持續(xù)改進(jìn)的承諾，Microchip的EMI保護(hù)的一個(gè)直接結(jié)果是匯編了多年的EMI / EMC的工程經(jīng)驗(yàn)和嵌入式系統(tǒng)設(shè)計(jì)人員的直接反饋。 Microchip已經(jīng)實(shí)施了多方面的方法來創(chuàng)建不敏感的EMI和限制EMI排放的電氣環(huán)境內(nèi)的PIC微控制器。 防御EMI還采用了EFT，以及陣陣ESD（靜電放電）的方法來處理。
微芯片實(shí)現(xiàn)的嵌入式工程師所面臨的挑戰(zhàn)，并開發(fā)了技術(shù)，降低易感性EMI / EMC，并提供強(qiáng)大的產(chǎn)品在行業(yè)最電。
EMC Microchip產(chǎn)品的優(yōu)點(diǎn)
易于EMI / EMC驗(yàn)證及測(cè)試的最新監(jiān)管法規(guī)
減少輻射EMI干擾
電增強(qiáng)的ESD和EFT保護(hù)屏障
更低的系統(tǒng)成本，減少PCB的濾波和隔離
電壽命長，可靠性強(qiáng)大的解決方案
更高的免疫力注入的噪聲和惡劣的電氣環(huán)境
與傳統(tǒng)Microchip產(chǎn)品的EMI / EMC等價(jià)
Microchip對(duì)進(jìn)行了大量的EMI / EMC測(cè)試，以驗(yàn)證PIC微控制器，dsPIC瀀坥信號(hào)控制器，模擬及存儲(chǔ)產(chǎn)品的電磁彈性。 是由一套完整的測(cè)試，確定的排放量和易感性的輻射和傳導(dǎo)電磁干擾環(huán)境以及ESD和EFT的變化，由于EMI / EMC特性。
結(jié)果
微芯的工程師了解現(xiàn)代嵌入式設(shè)計(jì)工程師面臨的諸多挑戰(zhàn) - 日程安排，會(huì)議產(chǎn)品的定義，限制了工程成本，創(chuàng)造最電的可靠的產(chǎn)品。 利用Microchip的產(chǎn)品在您的應(yīng)用程序最小化所有這些設(shè)計(jì)挑戰(zhàn)提供了靈活的解決方案，易于設(shè)計(jì)，同時(shí)提供世界一流的電氣穩(wěn)定性。 任何應(yīng)用程序可以實(shí)現(xiàn)Microchip的電性能穩(wěn)定的產(chǎn)品，特別是那些居住在電惡劣的環(huán)境中，如家電，汽車和工業(yè)應(yīng)用程序的好處。 Microchip的貢獻(xiàn)證明了客戶的認(rèn)可與現(xiàn)實(shí)世界的一個(gè)看似無限多的應(yīng)用采用Microchip的產(chǎn)品設(shè)計(jì)的挑戰(zhàn)和不利影響的任何應(yīng)用程序內(nèi)的EMI限制。
典型的EMI測(cè)試結(jié)果-數(shù)據(jù)不言自明！
傳導(dǎo)EMI
輻射EMI
有了這么多的測(cè)試方法EMI，Microchip公司實(shí)現(xiàn)選定的行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試方法被認(rèn)為是最艱難的。 顯示的數(shù)據(jù)表明了傳導(dǎo)和輻射噪聲的一個(gè)典型的8位
閃存中檔PIC微控制器。